胶体石墨的粒度分布的测定，对于1um以下的石墨胶体粒子的粒度分布的测定法，有电子显微镜法和重力沉降法两种。下面欧尔石墨小编详细介绍一下：

       电子显微镜法的优点是除了可以测定粒度分布外，也能知道粒子的形状，一般采用一万倍的电子显微镜照相，测定胶体石墨粒子频数分布。重力沉降法的测定装置为超速离心机，这种超速离心机是在相当于重力1万倍的强大离心力情况下测定胶体石墨的粒度分布的。

       在目前的生产实践中，对于大于1um的胶体石墨粒子的粒度测定采用沉降法，对于小于1um的石墨微粒子，采用光透过法粒度自动测定装置。光透过法是在粉体沉降所产生悬浮液浓度的变化过程中，将光束射入，由粉体的光遮断量，间接地测定粒度分布。采用间接法，使操作手续简单明了，在微粉测定中，较大的问题是粒子的凝聚。所以采用光透过法测定微粉粒度的时候，理想的浓度是做成含石墨0.05%的低浓度悬浮液，并加入适量的分散剂使其分散。

       颗粒粒度测定的时候，测定之前按照规定调整好仪器，并用分散液进行空白校正。记录笔调整好，把样品放入离心机，进行离心沉降测定，分别以两次测定结果的算术平均值作为测定结果。重量累积百分数，各粒级两次测定值之差不能超过6%，否则必须进行第三次测量，以三次中不超过误差标准的两次测定值计算结果。